CP Probe Card（晶圆探针卡）是半导体晶圆测试（Wafer Sort）的关键耗材，用于连接测试机（Tester）和晶圆（Wafer），实现对芯片的电性参数测试和功能验证。该产品直接影响测试效率、良率判断及生产成本，是半导体制造中不可或缺的核心测试工具。
