莫扎特半导体(苏州)有限公司
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老化测试插座
老化测试插座
产品简介

● 采用镊式动作机构实现稳定接触性与高接触良率

● 通过自动化组装实现最快内部生产

● 具备坚固耐用性/长使用寿命

● 适用于NAND闪存/D-RAM应用的低成本解决方案

夹持式/双触点结构

应用最为广泛的夹持式触点长期服务于老化测试插座领域,莫扎特公司目前采用双夹持触点和直列式夹持触点两种方案。该类型触点通常适用于0.4毫米及以上间距的应用场景。

 

莫扎特夹持触点老化测试插座提供多种外形规格,其小型化设计专为实现更高电路板集成密度而优化。

设计特点
  • 开放式顶部设计便于自动化封装装载
  • 多种插座尺寸兼容BIB标准
  • 小型插座轮廓设计使电路板密度最高可达480密度
  • 封装间距:0.4/0.5/0.65/0.8/1.0
  • 优化设计同时支持手动和自动化操作台操作
插座系列
Series Outlines Max IC Min IC Matrix
7A 22x27.6 14×21.7 7x7 16x20
7C 22x26 14x18 7x7 16x20
7B 20x20 12.5x14.5 7x7 12x16
7D 20x21.4 12.5x16 7x7 12x16
7F 22×28 14×20 7x8 15×23
7H 26x26 17x17 10x10 25×25
7I 18x26 8x14 10x12 9x12
7J 20×23 10x16 7x7 13x17
7CJ 22×26 14x18 10x10 16x13
7KS 18x20 10x13 7x8 9x16
7G 19.5x26 10x16 5x5 20x20
7F80 7F80 14x19 7x8 17x23
7J80 20×23 13x16 7x8 13x17
7K 18x20 10x13 7x8 9x16
7N 23x31 14x18 7x7 16x20
7Q 21×26 14x18 7x7 16x20
7V 17x18.7 9x12 7x7 9x13
产品清单
Package Application Pitch Package Package size Part Number Socket size
DDR4 0.8  78FBGA 7.5x11.0 7K95-078D-1269 18x20
7.5x11.0 7A95-078D-1272 22x26
10.3x11.0 7K95-078D-2268 18×20
10.3x11.0 7A95-078D-2280 22×26
9.5x11.0 7K95-078D-2884 18×20
11.0x11.0 7K95-078D-2662 18×20
10.2x11.2 7K95-078D-2863 18×20
96FBGA 7.5x13.3 7K95-096D-1521 18×20
10.3x13.3 7K95-096D-2694 18×20
DDR5 0.8 82FBGA 10.0x11.0 7K9H-082D-2805 18×20
7T9S-082D-2946 18x16.7
106FBGA 10.0x14.1 7K9S-106D-2985 18x20
NAND 0.8  316FBGA 14.0x18.0 7U95-316D-2480 25x25
UFS 0.5 153FBGA 11.5x13.0 7D98-153F-2827 20×20
11.0x13.0 7D9N-153F-2822 20×20
eMCP 0.5 221FBGA 11.5x13.0 7H92-221F-1745 26x26
7D98-221F-2828 20x20
0.5 254FBGA 11.5x13.0 7D98-254F-2367 20x20
7D9N-254F-2893 20x20
0.5 297FBGA 11.5x13.0 7D9N-297F-2829 20x20
7D9N-297F-2833 20x20
        7D9N-297F-2829 20x20
LPDDR4X 0.65&0.8 200FBGA 11.5x15.0 7F9H-200V-2343 22×28
LPDDR5 0.4  496FBGA 14.0x12.4 7H9N-496M-2549 26x26
GDDR5 0.8  170FBGA 12.0x14.0 7A95-170D-985 22x26
GDDR6 0.75 180FBGA 12.0x14.0 7C92-180G-1864 22x26
7W9S 180G 2890 21×23
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